532 nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究

廖海; 孙年春; 冯国英; 周传明

激光技术, 2010, 34 (5): 643, 网络出版: 2011-02-15

532 nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究

Experimental study on 532nm laser-induced failure of array and linear CCD

廖海 ¹孙年春 ^1,*冯国英 ¹周传明 ²

作者单位

¹ 四川大学电子信息学院, 成都 610064

² 中国工程物理研究院科技委, 绵阳 621900

补充材料

廖海, 孙年春, 冯国英, 周传明. 532 nm激光对面阵和线阵CCD损伤效应实验研究[J]. 激光技术, 2010, 34(5): 643. LIAO Hai, SUN Nian-chun, FENG Guo-ying, ZHOU Chuan-ming. Experimental study on 532nm laser-induced failure of array and linear CCD[J]. Laser Technology, 2010, 34(5): 643.