高斯光束照射下微米颗粒的后向散射测量与分析

顾侃; 侯科良; 沈建琪

doi:doi:10.3788/CJL201946.0904003

中国激光, 2019, 46 (9): 0904003, 网络出版: 2019-09-10

高斯光束照射下微米颗粒的后向散射测量与分析下载： 921次

Measurement and Analysis on Backward Scattering of Microparticles Illuminated by Gaussian Beam

顾侃 ^*侯科良沈建琪

作者单位

上海理工大学理学院, 上海 200093

基本信息

DOI:	10.3788/CJL201946.0904003
中图分类号:	O436
栏目:	测量与计量
项目基金:	国家自然科学基金、
收稿日期:	2019-03-25
修改稿日期:	2019-05-13
网络出版日期:	2019-09-10
通讯作者:	顾侃 (410926331@qq.com)
备注:	--

顾侃, 侯科良, 沈建琪. 高斯光束照射下微米颗粒的后向散射测量与分析[J]. 中国激光, 2019, 46(9): 0904003. Gu Kan, Hou Keliang, Shen Jianqi. Measurement and Analysis on Backward Scattering of Microparticles Illuminated by Gaussian Beam[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(9): 0904003.