中国激光, 2019, 46 (9): 0904003, 网络出版: 2019-09-10
高斯光束照射下微米颗粒的后向散射测量与分析 下载: 922次
Measurement and Analysis on Backward Scattering of Microparticles Illuminated by Gaussian Beam
测量 后向散射 高斯光束 颗粒粒径 信号分析 measurement backward scattering Gaussian beam particle diameter signal analysis
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