光学学报, 2010, 30 (8): 2284, 网络出版: 2010-08-13   

激光预处理ZrO2-SiO2 1064 nm高反射膜的机理

Mechanism of Laser-Conditioning ZrO2-SiO2 High Reflective Thin Film at 1064 nm
作者单位
1 中国科学院 上海光学精密机械研究所,中国科学院强激光材料重点实验室,上海 201800
2 中国科学院 研究生院,北京 100049
引用该论文

李笑, 刘晓凤, 单永光, 赵元安, 邵建达, 范正修. 激光预处理ZrO2-SiO2 1064 nm高反射膜的机理[J]. 光学学报, 2010, 30(8): 2284.

Li Xiao, Liu Xiaofeng, Shan Yongguang, Zhao Yuanan, Shao Jianda, Fan Zhengxiu. Mechanism of Laser-Conditioning ZrO2-SiO2 High Reflective Thin Film at 1064 nm[J]. Acta Optica Sinica, 2010, 30(8): 2284.

引用列表
1、 高损伤阈值激光薄膜的制备方法应用光学, 2023, 44 (6): 1185
3、 激光预处理对HfO2薄膜损伤特性的影响光学学报, 2013, 33 (12): 1231001

李笑, 刘晓凤, 单永光, 赵元安, 邵建达, 范正修. 激光预处理ZrO2-SiO2 1064 nm高反射膜的机理[J]. 光学学报, 2010, 30(8): 2284. Li Xiao, Liu Xiaofeng, Shan Yongguang, Zhao Yuanan, Shao Jianda, Fan Zhengxiu. Mechanism of Laser-Conditioning ZrO2-SiO2 High Reflective Thin Film at 1064 nm[J]. Acta Optica Sinica, 2010, 30(8): 2284.

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