激光与光电子学进展, 2020, 57 (15): 151202, 网络出版: 2020-08-04   

基于振动节点优化提高双频激光干涉仪的测量精度 下载: 887次

Improving Measurement Accuracy of Dual-Frequency Laser Interferometer Based on Vibration Node Optimization
作者单位
1 吉林建筑科技学院电气信息工程学院, 吉林 长春 130114
2 吉林建筑科技学院计算机科学与工程学院, 吉林 长春 130114
摘要
双频激光干涉仪在纳米测量技术领域中的应用十分广泛,在特定的使用环境中,如何减小测量系统存在的误差,提高系统的测量精度变得越来越重要。鉴于此,提出一种利用测量环境中的振型节点减小环境振动,提高双频激光干涉仪测量精度的方法。先从理论的角度分析该方案的可行性,基于此理论搭建实验测量系统,再利用加速度传感器找到测量系统中的节点位置,最后测试双频激光干涉仪在振型节点位置和其他非节点位置处的测量重复性水平。实验结果表明:当外界存在振源时,所提方法在非振型节点位置的测量重复性为±9 nm,振型节点位置的测量重复性为±4 nm,即节点位置处双频激光干涉仪的测量精度相对非节点位置提高了125%,证明了该方法的有效性。
Abstract
Dual-frequency laser interferometers are widely used in the field of nanometer measurement. Particular usage context, reducing the errors in a measurement system and improving the measurement accuracy of the system becomes increasingly important. Accordingly, a method is proposed herein to use the vibration modal nodes in the measurement environment to reduce environmental vibrations and improve the measurement accuracy of a dual-frequency laser interferometer. First, the feasibility of the scheme is analyzed from a theoretical perspective, and the experimental measurement system is built based on this theory. Then, the node position in the measurement system is found by using an acceleration sensor. Finally, the measurement repeatability of the dual-frequency laser interferometer in the modal node position and other non-modal node positions are tested. Experimental results show that when there is an external vibration source, the measurement repeatability of the proposed method in the non-modal node position is ±9 nm, and that of the modal node position is ±4 nm. Thus, the measurement accuracy of the dual-frequency laser interferometer in the node position is 125% higher than that in the non-modal node position, which confirms the effectiveness of this method.

1 引言

双频激光干涉仪因具有测量精度高和应用范围广等优点,被广泛应用于坐标测量机、光刻机和大型超精密加工系统中以进行精密校准、位置检测及动态误差的测量[1]。但同时双频激光干涉仪对环境条件的要求较高,其稳定性容易受到环境温度、湿度、气压、振动以及仪器结构等因素的影响[2]。其中环境温度、湿度及气压可以通过增加环境控制系统进行有效抑制,甚至可以利用环境补偿技术进一步提高测量精度[3-4]。研究人员通过合理地设计机械结构及光学元件的布局,将影响测量精度的各种因素由干涉仪自身予以消除[5-6],还有通过对干涉信号中存在的非正交误差、不等幅误差及直流电平漂流误差进行补偿修正来提高测量精度[7]。目前,环境振动控制主要采取隔离的措施,如声学隔振系统、主动隔振系统和被动隔振系统等,以减少振动对测量系统的影响,同时使得测量系统的固有频率远离振动源[8]。因此,若工作环境中存在固有振动干扰的情况,振动便成为影响干涉仪测量精度的最主要因素之一。

环境中振动干扰的来源比较多,尤其微小振动干扰通常比较复杂,不仅来自大地脉动、车辆行驶、人员走动和机器运转等地面振动,空气气流和大分贝噪声等作为振动源,也会给高精度测量的结果带来显著影响。工作环境中的振动不但来源复杂,振动频率也各不相同。为了使精密测量设备具有良好的工作环境,隔振平台不仅需要对中高频(10 Hz以上)干扰具有非常良好的隔振效果,而且也必须能够有效隔离低频(1~10 Hz)和超低频(1 Hz以下)干扰[9]。由于很难无限制地降低装置的固有频率,且通过隔振的方法也无法有效隔离低频和超低频的振动干扰[10],利用多级隔振还会极大地增加测量成本,造成测量系统的复杂化。尤其当测量系统中的被测对象本身是振动源在进行位移测量时,可能激励起测量系统中其他振动模态,从而影响测量精度。

因此,基于当前特定的工作环境和隔振条件,通过寻找测量平台上的振型节点,在该节点位置处安装激光干涉计,以提高双频激光干涉仪的测量精度。先从理论的角度分析该方法的可行性,再通过实验进行测试,验证该方法的有效性。该方法为提高双频激光干涉仪的位移测量精度提供一种新的思路,具有操作简便、成本低廉而且不会增加测量系统的复杂性。

2 基本原理

2.1 双频激光干涉仪的工作原理

双频激光干涉仪的工作原理如图1所示,其中CCR为角锥反射镜。从He-Ne激光器出射的左旋和右旋偏振光通过λ/4波片后成为相互垂直的线偏振光(频率f1光平行纸面,频率f2光垂直纸面),经过非偏振分光镜后一小部分光被反射,一大部分光发生透射。反射光经45°检偏器后被光电探测器接收,作为后续电路处理的基准信号;透射光遇到干涉计后,一部分光(频率f2的光)被反射,一部分光(频率f1的光)发生透射。反射光经过参考CCR后再一次反射回干涉计中,作为参考光;透射光被测量CCR反射回干涉计中,作为测量光,并与参考光相遇产生干涉。相干光同样经过45°检偏器后被光电探测器接收,作为系统的测量信号。基准信号与测量信号经过解调电路分析计算后得到被测对象的位移信息。

图 1. 双频激光干涉仪的工作原理图

Fig. 1. Working principle diagram of dual frequency laser interferometer

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假设产生基准信号的f1f2两束光的振动方程可写为

E1=ER1cos(2πf1t),(1)E2=ER2cos(2πf2t),(2)

式中:ER1ER2为频率f1f2参考光的振幅值;t为传播时间。合成振幅为

E=E1+E2=ER1cos(2πf1t)+ER2cos(2πf2t)(3)

光强函数为

IR=E2=(ER12+ER22)/2+E2R1cos(4πf1t)/2+ER22cos(4πf2t)/2+ER1ER2cos2π(f1+f2)t+ER1ER2cos2π(f2-f1)t(4)

由于光电探测器受到频响的限制,实际接收光强为

IRA=(ER12+ER22)/2+ER1ER2cos2π(f2-f1)t(5)

同理,可计算得到测量信号的光强为

IM=(EM12+EM22)/2+EM1EM2cos2π(f2-f1±Δf)t,(6)

式中:EM1EM2分别为频率f1f2测量光的振幅值;Df为测量角反射镜与干涉计间存在的相对运动。因含有Df ,则光电探测器的接收光强会发生相应变化,通过相应的算法即可计算得到位移量的变化。如果安装环境中存在沿运动方向一致的固有振动,则该振动会引入一个固有噪声,从而影响双频激光测量干涉仪的测量重复性水平。干涉仪的测量重复性是干涉仪测量精度最直观的表现,因此测量重复性越高,对应的测量精度就越高。

2.2 节点定理

由文献[ 11]可知,线性时不变系统的固有振型节点概念源自两端固定的细弦作固有振动时会呈现波节现象。波节是弦上的非完全约束点集(即除去端点以外的点),其在某阶固有振动中保持静止。对于细梁、薄板和厚板等弹性体,通常将其固有振动时保持静止的非完全约束点集称为节点、节线和节面。对于由惯性元件、弹性元件构成的离散系统,通常将系统作固有振动时保持静止的非完全约束点集称为节点,尽管其可能具有一维或二维特征。人们很早就发现,固有振型阶次与节点数目间存在一定关系[12-14]。自上世纪30年代起,甘特马赫等[14]对固有振型节点规律进行了深入研究,并在40年代初分别讨论了多种离散和连续系统,指出其第r阶固有振型有r-1个节点。

一般n个自由度系统的无阻尼自由振动可表示为[15]

Mx¨+Kx=0,(7)

式中:MK分别为n阶质量和刚度方阵;xn维位移向量; x¨为对变量x求二阶导。与(7)式相对应的频率方程为

K-λM=0,(8)

式中:λ为矩阵的特征向量。从(8)式可求得n个固有频率λnλn-1≥……≥λ2λ1≥0(λi应为固有频率的平方),其中i={1,2,3,…,n}。对应于λi的固有振型(或主振型)向量Ai可表示为

(K-λiM)Ai=0(9)

许多振动系统的固有特性分析结果表明,第一主振型A1n个元素没有正负号变化,第二主振型A2的元素则存在一次正负号变化,第三主振型A3的元素变号两次,依次类推,第i主振型Ai的元素变号i-1次。振型中相邻元素的变号说明相应振动为反相,在振型图中表现为Ai曲线与原基准(静态)的一次相交,其交点称为节点。上述结论描述了振型与节点的关系,通常称之为节点定理。节点概念在工程实践中具有重要地位,其是判断固有振动阶次、布置实验激振点和测振点的依据,也是振动设计和振动控制的依据之一。

由节点定理可知,存在固定机构的激光干涉测量系统中,必然存在节点位置,即固有振动时保持静止的点。当测量系统中存在固有振动频率时,若将测长干涉仪的干涉计和测量镜置于节点位置,可大大降低固有振动水平,根据激光干涉仪的工作原理,该测长干涉仪的测量重复性高于非节点位置附近的测长干涉仪。

3 实验测试

为了对第2节的理论进行验证,搭建了双频激光干涉仪的三轴测量系统,如图2所示。X轴方向上共有两个测量轴(左侧为X1,右侧为X2),Y轴方向有一个测量轴,坐标系的坐标轴遵循右手法则。从双频激光器出射的激光经分光棱镜(67/33 SP)后分成两部分,67%的光发生透射,33%的光被反射。被反射的激光经过Y轴全反射镜(reflector)后进入Y轴干涉计(interferometer)中并被分成两部分,一部分透射光进入测量CCR后再被反射回来形成测量光,另一部分反射光进入参考CCR后被反射回来形成参考光,两者在Y轴干涉计内重新相遇产生干涉信号S;透射光经50/50分光棱镜后一半发生透射,一半被反射。被反射的部分光进入X2轴的干涉计后被分成两部分,一部分反射光进入参考CCR后被反射回来,形成参考光;另一部分透射光进入测量CCR后被反射回来,形成测量光,参考光与测量光在X2的干涉计处再一次相遇产生干涉信号S2。同理,被50/50分光棱镜透射的光经过反射镜反射后进入X1轴干涉计,一部分被反射光进入参考CCR,并被反射回来形成参考光;一部分透射光进入测量CCR后被反射回来,形成测量光,最后在干涉计处与参考光相遇产生干涉信号S1。光电转换模块将干涉信号S1S2S转换成电信号,最后经数据处理模块得到三个测量轴的位移量。在图2测量系统中,所有测量CCR都安装在一个只能沿Z轴作闭环运动的金属板上,将这一沿Z轴进行闭环运动的系统作为实验的振动源。该可动机构的Z轴向运动驱动器为压电陶瓷(PZT),Z轴位移反馈系统为电容传感器。

图 2. 三轴测长干涉仪的分布示意图

Fig. 2. Distribution diagram of triaxial length interferometer

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3.1 系统模态测试

对双频激光干涉仪进行重复性测量前,需要先测试激光干涉仪系统中各个部分的振动频率响应函数。通过测量得到的振动频率响应函数,就能够分析得到测量系统中可能存在的振动模态以及振动节点的位置。先将测量系统分成4个部分:干涉计及固定干涉计的L型大理石、测量角锥反射镜与Z轴向运动金属板、安装测量系统的蜂窝板和支撑蜂窝板的大理石基台。使用型号为PCB 393B31加速度传感器对以上4个部分的振动频率传递函数分别进行测量,测量时加速度传感器的频率响应范围为0~500 Hz,测量方法为锤击法。

图 3. 干涉计与L型大理石上加速度计的布置

Fig. 3. Arrangement of interferometer and accelerometer on L-shaped marble

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测量过程:先测试干涉计与固定干涉计的L型大理石的振动频率响应函数,将三个加速度器分别固定在干涉计顶部,另外两个固定在L型大理石台面上,具体分布如图3所示。再在加速度传感器的右侧大理石上布置一个激振点,采用锤击法进行测试,测试结果如图4所示。其中FRF(Frequency Response Function) LPlate1(LPlate1表示L型大理石第1部分)表征固定X轴干涉计的L型大理石部分的频率响应函数,FRF LPlate2(LPlate2表示L型大理石第2部分)表征固定Y轴干涉计的L型大理石部分的频率响应函数。从图4可以看到,L型大理石固定X轴干涉计的部分,加速度传感器的激振效果明显,在Y轴和Z轴上(对应测长干涉系统的X轴和Z轴)32.95,68.25,198.27 Hz三个频率处均响应;L型大理石固定Y轴干涉计的部分,加速度传感器仅在Z轴上32.95,68.25,198.27 Hz三个频率处均有响应。安装在L型大理石上的干涉计顶部的加速度计激振效果不明显,且模态频率都在200 Hz以上。

图 4. L型大理石及干涉计的频率响应函数测试结果

Fig. 4. Test results of frequency response function of L-shaped marble and interferometer

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再将L型大理石上的两个加速度传感器置于Z轴可动机构底座与L型大理石间的蜂窝板上,同样采用锤击法测试蜂窝板的振动频率响应函数,测量结果如图5所示,其中FRF Base1(Base1表示第1块基板)表征位于固定X轴干涉计的大理石与Z轴可动机构底座间蜂窝板的频率响应函数,FRF Base2(Base2表示第2块基板)表征位于固定Y轴干涉计的大理石与Z轴可动机构底座间蜂窝板的频率响应函数。从图5可以看到,蜂窝板存在两个模态:33.36 Hz和69.09 Hz,且均沿Z轴方向振动。这两个模态与L型大理石模态测试结果中32.95 Hz和68.25 Hz相当,因此可判定这两个模态均由结构随外部振动所致,并非蜂窝板自身模态。

图 5. 蜂窝板的频率响应函数测试结果

Fig. 5. Test results of frequency response function of honeycomb panel

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最后测量CCR与固定CCR的金属板(即Z轴向可动机构)的振动频率响应函数。将三个加速度器分别固定在CCR顶部,另外两个固定在金属板表面上,且两者分别在X轴和Y轴轴线上,具体分布如图6所示。激振点分布在金属板上,采用锤击法进行测试,测试结果如图7所示,其中FRF Plate(Plate表示Z向运动机构顶部金属板):Plate X表征X轴轴线上金属板的频率响应函数,FRF Plate:Plate Y表征Y轴轴线上金属板的频率响应函数;FRF Mirror X1表征X轴左侧CCR的频率响应函数,FRF Mirror X2表征X轴右侧CCR的频率响应函数,FRF Mirror Y表征Y轴CCR的频率响应函数。

图 6. CCR及Z轴向运动金属板上加速度计的分布

Fig. 6. Distribution of accelerometer on CCR and Z axis direction moving metal plate

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图7(a)可以看到,对于沿Z轴运动的金属板而言,整个模态频率响应函数曲线只有一个明显的峰,该峰对应的频率值为210.60 Hz。从图7(b)可以看到,X1轴CCR的频率响应函数在50.04,99.64,150.07,210.60 Hz处出现峰值,X2轴及Y轴CCR的频率响应函数曲线仅在210.60 Hz处出现峰值。为了找到X1X2两轴CCR频率响应函数不同的原因,将两加速度传感器互换并进行测试,发现在50.04,99.64,150.07 Hz三个频率处出现X2轴CCR的频率响应函数,X1轴CCR的频谱响应函数未出现。再根据供电交流电的频率为50 Hz,因此可判定产生这一现象的原因是X1轴CCR上的加速度传感器电线屏蔽不良,受到交流电频及其倍频的干扰所致。由此可判断,沿Z轴可动机构及反射镜的振动模态为210.60 Hz。

综上所述,当外界存在振动源时,测量系统会存在32.95,68.25,198.27,210.60 Hz 4个振动频率。由于这些振动频率的存在,从而影响双频激光测长干涉仪的测量重复性。

3.2 干涉仪测量重复性测试

为了验证第3.1节的结论,分别进行两组测试。测试一:Z轴可动机构不供电,即无外界振动激励的情况,测试双频激光干涉仪的重复性,测试结果如图8所示,其中IF为干涉仪。从图8可以看到,三轴测长干涉仪在3 min多的时间范围内有缓慢波动,且三个测量轴的波动情况在时间上几乎一致,这种极低频的波动主要来自空气扰动。尽管受到空气扰动的影响,三路测长光的测量重复性较小,均在±2 nm范围内。对干涉仪测量数据进行频谱分析,所得结果如图9所示,其中FFT为快速傅里叶变换。从图9可以看到,当无外界振动源的影响时,测量系统中不存在明显的振动干扰,因此测量精度很高。

图 7. 可动机构及反射镜的频率响应函数测试结果。(a)金属板在X/Y轴方向上的振动频率响应函数;(b)三个测量反射镜的振动频率响应函数

Fig. 7. Test results of frequency response function of movable mechanism and mirror. (a) Vibration frequency response function of metal plate in X/Y axis direction; (b) vibration frequency response function of three measuring mirrors

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图 8. 无外界振动时三轴的干涉仪测量重复性

Fig. 8. Measurement repeatability of triaxial interferometer without external vibration

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图 9. 无外界振动时重复性测量数据的傅里叶频谱分析

Fig. 9. Fourier spectrum analysis of repeatable measurement data without external vibration

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测试二:给Z轴可动机构供电,并使安装CCR的金属板沿Z轴运动一段距离后开始闭环,使PZT一直处于工作状态以保持当前位置不变。利用Z轴可动机构的闭环来模拟外界有振动激励的情况,再测试双频激光干涉仪的重复性,实验测试结果如图10所示。从图10可以看到,在长达5 min的测量时长内,X轴两个测量轴干涉仪的测量重复性范围分别为±8 nm(2σ)和±9 nm(2σ)(σ为标准方差),Y轴测长干涉仪的测量重复性范围为±4 nm(2σ)。对X/Y轴测量重复性数据进行傅里叶频谱分析,所得结果如图11所示。从图11可以看到,X轴测长系统沿测量方向上存在一个明显振动,振动对应的频率均为22 Hz,Y轴测长系统沿测量方向上无明显振动。

图 10. Z轴运动机构闭环情况下三轴的干涉仪测量重复性

Fig. 10. Measurement repeatability of three-axis interferometer under closed loop of Z-axis motion mechanism

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图 11. Z轴运动机构闭环情况下重复性测量数据的傅里叶频谱分析

Fig. 11. Fourier spectrum analysis of repeatability measurement data under closed loop of Z-axis motion mechanism

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4 分析与讨论

由3.1节分析可知,当外界存在振动源时,测量系统中可能存在32.95,68.25,198.27,210.60 Hz 4个振动频率。对于L型大理石而言,32.95 Hz的振动频率分量主要分布在加速度计的Y轴方向上,该振动方向正好与测长干涉仪的X轴位移测量方向一致;68.25 Hz和198.27 Hz的振动频率只会使L型大理石产生沿Z轴的振动。根据节点定理,可认为Y轴测量干涉计位于L型大理石在X轴振动方向的节点上。

根据测长干涉仪的工作原理,位移的产生由CCR与干涉计间产生相对运动所致。从图10可以看到,X轴两路测长干涉仪的噪声水平在18 nm(2σ)以内,Y轴测长干涉仪的噪声水平在8 nm(2σ)以内,两者相差10 nm,也就是Y轴测长干涉仪的位移测量重复性相对于X轴测长干涉仪提高了125%。从图11可以看到,Y轴测长干涉仪无明显振动频率的存在,且FFT幅值在小于120 Hz频率范围内均小于0.05 nm;X轴测长干涉仪存在一个明显振动,该振动对应的频率为22 Hz,且振动幅值大于0.05 nm。由此可说明,因为存在22 Hz的振动频率,使X轴和Y轴测长干涉仪的测量重复性不同,即两者的测量精度存在差别。通过对测长干涉仪重复性测量数据的频谱分析得到,测量环境中存在22 Hz的振动频率,与加速度计测量得到的Y轴振动频率为32.95 Hz相对应,但两者之间存在10.95 Hz的频率差,产生这一频率差的原因是电脑的采样率低于干涉仪计数器输出的频率所致。干涉仪测量数据采集系统是基于商用计算机(PC)平台开发的,再利用MATLAB编写相应的程序来读取安捷伦N1230A板卡计数器的数字信号,采样频率达到288 Hz,但这一采样率显然远高于PC本身的工作频率。因此,利用干涉仪采样得到的振动频率与真实的振动频率间存在一定偏差,所以测量系统中存在的振动其频率测量值以加速度计测量结果为准。

综上所述,产生这种干涉仪测量重复性水平不一致的根本原因是振动不一致所导致。因为引入内镜筒Z轴调节机构的闭环运动,使得测量系统在振动频率为32 Hz附近的振动被激励起来,Y轴测量光的干涉计位于Y轴振动的节点位置处,对外界的振动很不敏感,所以测量精度比X轴高出1倍多。

5 结论

构建三轴双频激光干涉位移测量系统,通过对测量系统各部分的振动频率响应函数进行测量,得到系统可能存在的振动频率以及振动节点的位置。对比测长干涉仪的频谱分析结果,两者之间存在很好的一致性。同时测长干涉仪的重复性数据说明,当外界存在固有振动时,合理利用振动节点,仍可将测量重复性从±9 nm提高到±4 nm水平。该方法既能有效降低测量成本,又能简化系统的复杂性,为复杂振动环境下高精度位移测量提供一种有效的解决方案。

由于受到测量条件以及时间的限制,实验中三轴测量系统只搭建水平方向位移测量系统,未建立Z轴位移测量光路,因此缺少对Z轴振动频率响应函数的测量与验证。后期将在此基础上,继续开展沿Z轴振动节点位置探索与激光干涉仪测量重复性的研究工作。

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