电致发光用于大功率半导体激光器失效模式分析

刘启坤; 孔金霞; 朱凌妮; 熊聪; 刘素平; 马骁宇

doi:doi:10.3788/fgxb20183902.0180

发光学报, 2018, 39 (2): 180, 网络出版: 2018-03-14

电致发光用于大功率半导体激光器失效模式分析

Failure Mode Analysis of High-power Laser Diodes by Electroluminescence

刘启坤 ^1,2,*孔金霞 ¹朱凌妮 ¹熊聪 ¹刘素平 ¹马骁宇 ¹

作者单位

¹ 中国科学院半导体研究所光电子器件国家工程研究中心, 北京100083

² 中国科学院大学材料科学与光电技术学院, 北京100049

图 & 表

刘启坤, 孔金霞, 朱凌妮, 熊聪, 刘素平, 马骁宇. 电致发光用于大功率半导体激光器失效模式分析[J]. 发光学报, 2018, 39(2): 180. LIU Qi-kun, KONG Jin-xia, ZHU Ling-ni, XIONG Cong, LIU Su-ping, MA Xiao-yu. Failure Mode Analysis of High-power Laser Diodes by Electroluminescence[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2018, 39(2): 180.