发光学报, 2018, 39 (2): 180, 网络出版: 2018-03-14
电致发光用于大功率半导体激光器失效模式分析
Failure Mode Analysis of High-power Laser Diodes by Electroluminescence
大功率半导体激光器 失效模式分析 电致发光 突然光学灾变 暗线缺陷 high-power diode lasers failure mode analysis electroluminescence catastrophic optical damage dark line defect
知识挖掘
相关论文
本文相似领域研究进展,
知识服务
本文主要研究领域论文发表情况:
104篇
20篇
1篇
1篇
1篇
本文研究领域论文发表情况(统计图):
刘启坤, 孔金霞, 朱凌妮, 熊聪, 刘素平, 马骁宇. 电致发光用于大功率半导体激光器失效模式分析[J]. 发光学报, 2018, 39(2): 180. LIU Qi-kun, KONG Jin-xia, ZHU Ling-ni, XIONG Cong, LIU Su-ping, MA Xiao-yu. Failure Mode Analysis of High-power Laser Diodes by Electroluminescence[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2018, 39(2): 180.