半导体光电, 2012, 33 (5): 672, 网络出版: 2012-11-01  

氟基等离子体处理对高Al组分AlGaN肖特基接触反向漏电的改善

Improvement on Leakage Current for High Al-content AlGaN Schottky Diode by Fluoride-based Plasma Treatment
作者单位
北京大学 物理学院 人工介观与微结构国家重点实验室, 北京 100871
Metrics
摘要访问:5100次
PDF 下载:40次
全文浏览:4次
总被查询:0次

赵胜, 秦志新, 刘芳, 卢励吾, 王新强, 沈波, 张国义. 氟基等离子体处理对高Al组分AlGaN肖特基接触反向漏电的改善[J]. 半导体光电, 2012, 33(5): 672. ZHAO Sheng, QIN Zhixin, LIU Fang, LU Liwu, WANG Xinqiang, SHEN Bo, ZHANG Guoyi. Improvement on Leakage Current for High Al-content AlGaN Schottky Diode by Fluoride-based Plasma Treatment[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2012, 33(5): 672.

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!