红外与毫米波学报, 2016, 35 (2): 214, 网络出版: 2016-05-11
利用同步辐射光电子能谱技术研究Pb1-xSrxTe薄膜的能带移动及其组成异质结能带带阶
Band shift of Pb1-xSrxTe thin film and its band alignment using synchrotron radiation photoelectron spectroscope
基本信息
DOI: | 10.11972/j.issn.1001-9014.2016.02.017 |
中图分类号: | Q47 |
栏目: | |
项目基金: | 国家自然科学基金(61275108, 11374259),浙江省自然科学基金(Z1110057,LY15F050009),浙江省教育厅科研项目(Y201430784),浙江大学城市学院教师科研基金(J-15011) |
收稿日期: | 2015-06-12 |
修改稿日期: | 2015-12-31 |
网络出版日期: | 2016-05-11 |
通讯作者: | 蔡春锋 (caicf@zucc.edu.cn) |
备注: | -- |
蔡春锋, 彭曼丽, 翟继志, 毕岗, 张兵坡, 王淼, 吴惠桢, 张文华, 朱俊发. 利用同步辐射光电子能谱技术研究Pb1-xSrxTe薄膜的能带移动及其组成异质结能带带阶[J]. 红外与毫米波学报, 2016, 35(2): 214. CAI Chun-Feng, PENG Man-Li, ZHAI Ji-Zhi, BI Gang, ZHANG Bing-Po, WANG Miao, WU Hui-Zhen, ZHANG Wen-Hua, ZHU Jun-Fa. Band shift of Pb1-xSrxTe thin film and its band alignment using synchrotron radiation photoelectron spectroscope[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2016, 35(2): 214.