红外与毫米波学报, 2016, 35 (2): 214, 网络出版: 2016-05-11
利用同步辐射光电子能谱技术研究Pb1-xSrxTe薄膜的能带移动及其组成异质结能带带阶
Band shift of Pb1-xSrxTe thin film and its band alignment using synchrotron radiation photoelectron spectroscope
Metrics
摘要访问:4258次
PDF 下载:17次
全文浏览:4次
总被查询:0次
蔡春锋, 彭曼丽, 翟继志, 毕岗, 张兵坡, 王淼, 吴惠桢, 张文华, 朱俊发. 利用同步辐射光电子能谱技术研究Pb1-xSrxTe薄膜的能带移动及其组成异质结能带带阶[J]. 红外与毫米波学报, 2016, 35(2): 214. CAI Chun-Feng, PENG Man-Li, ZHAI Ji-Zhi, BI Gang, ZHANG Bing-Po, WANG Miao, WU Hui-Zhen, ZHANG Wen-Hua, ZHU Jun-Fa. Band shift of Pb1-xSrxTe thin film and its band alignment using synchrotron radiation photoelectron spectroscope[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2016, 35(2): 214.