强激光与粒子束, 2014, 26 (11): 114007, 网络出版: 2014-12-08
基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析
Simulation analysis of electron imaging method based on Monte Carlo simulation and particle tracer software
基本信息
DOI: | 10.11884/hplpb201426.114007 |
中图分类号: | O463.1 |
栏目: | 粒子束技术 |
项目基金: | 国家自然科学基金项目(11127507) |
收稿日期: | 2014-04-21 |
修改稿日期: | 2014-07-27 |
网络出版日期: | 2014-12-08 |
通讯作者: | 王致远 (wangzythu@aliyun.com) |
备注: | -- |
王致远, 杜应超, 黄文会. 基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26(11): 114007. Wang Zhiyuan, Du Yingchao, Huang Wenhui. Simulation analysis of electron imaging method based on Monte Carlo simulation and particle tracer software[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26(11): 114007.