基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析

王致远; 杜应超; 黄文会

doi:doi:10.11884/hplpb201426.114007

强激光与粒子束, 2014, 26 (11): 114007, 网络出版: 2014-12-08

基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析

Simulation analysis of electron imaging method based on Monte Carlo simulation and particle tracer software

王致远 ^1,2,*杜应超 ^1,2黄文会 ^1,2

作者单位

¹ 清华大学工程物理系, 北京 100084

² 清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室, 北京 100084

图 & 表

王致远, 杜应超, 黄文会. 基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26(11): 114007. Wang Zhiyuan, Du Yingchao, Huang Wenhui. Simulation analysis of electron imaging method based on Monte Carlo simulation and particle tracer software[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26(11): 114007.