光学学报, 2006, 26 (7): 1107, 网络出版: 2006-08-28   

膜厚监控误差及监控片不均匀对膜厚监控的影响

Effect of Thickness Monitoring Error and Inhomogeneity of Witness Glass on Film Thickness Monitoring
作者单位
1 中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
2 中国科学院研究生院, 北京 100039
基本信息
DOI: --
中图分类号: O484
栏目: 薄膜
项目基金: --
收稿日期: 2005-09-20
修改稿日期: 2005-11-15
网络出版日期: 2006-08-28
通讯作者: 朱美萍 (bree@siom.ac.cn)
备注: --

朱美萍, 易葵, 郭世海, 范正修, 邵建达. 膜厚监控误差及监控片不均匀对膜厚监控的影响[J]. 光学学报, 2006, 26(7): 1107. 朱美萍, 易葵, 郭世海, 范正修, 邵建达. Effect of Thickness Monitoring Error and Inhomogeneity of Witness Glass on Film Thickness Monitoring[J]. Acta Optica Sinica, 2006, 26(7): 1107.

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