电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响

冯刘; 刘晖; 张连东; 高翔; 苗壮; 程宏昌; 贺英萍; 史鹏飞

红外技术, 2013, 35 (5): 295, 网络出版: 2013-05-24

电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响

Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers

冯刘 ^1,2,*刘晖 ^1,2张连东 ^1,2高翔 ^1,2苗壮 ^1,2程宏昌 ^1,2贺英萍 ^1,2史鹏飞 ^1,2

作者单位

¹ 微光夜视技术重点实验室, 陕西西安 710065

² 北方夜视科技集团有限公司, 云南昆明 650223

引用该论文

冯刘, 刘晖, 张连东, 高翔, 苗壮, 程宏昌, 贺英萍, 史鹏飞. 电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响[J]. 红外技术, 2013, 35(5): 295.

FENG Liu, LIU Hui, ZHANG Lian-dong, GAO Xiang, MIAO Zhuang, CHENG Hong-chang, HE Ying-ping, SHI Peng-fei. Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers[J]. Infrared Technology, 2013, 35(5): 295.

引用列表

1、微通道板结构参数对噪声因子的影响光子学报, 2021, 50 (4): 135

2、碱腐蚀工艺对微通道板性能的影响研究红外技术, 2020, 42 (8): 752

3、面积微通道板(MCP)电子清刷测试系统设计应用光学, 2016, 37 (6): 833

冯刘, 刘晖, 张连东, 高翔, 苗壮, 程宏昌, 贺英萍, 史鹏飞. 电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响[J]. 红外技术, 2013, 35(5): 295. FENG Liu, LIU Hui, ZHANG Lian-dong, GAO Xiang, MIAO Zhuang, CHENG Hong-chang, HE Ying-ping, SHI Peng-fei. Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers[J]. Infrared Technology, 2013, 35(5): 295.

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