电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响
[1] 向世明, 倪国强. 光电子成像器件原理[M]. 北京: 国防工业出版社, 1999.
[2] 阎金良. 电子透射膜的生成及其对微通道板性能的影响[J]. 真空科学与技术, 2003, 23(5): 356-358, 368.
[3] Mario Marckwordt, Geoffrey Gaines, Jerry Edelstein, at el. The EUV detector of the Cosmic Hot Interstellar Plasma Spectrometer[J]. Proceedings of SPIE, 2003, 5164: 43-53.
[4] 孙立群, 黄运添, 唐天同, 等. 微光图象光子计数器象管光子增益测试研究[J]. 光子学报, 1997, 26(6): 498-503.
[5] 张兴华, 赵宝升, 缪震华, 等. 紫外单光子成像系统的研究[J]. 物理学报, 2007, 57(7): 5238-4243.
[6] 李慧蕊. 真空紫外微通道板光电倍增管的研制[J]. 真空科学与技术, 1999, 19(5): 384-388.
[7] 戴丽英, 陈举忠. 快速MCP型光电倍增管中暗电流的分析与研究[J]. 真空电子技术, 1999(3): 1-4.
[8] Boutot J P. Degassing of micro channel plates[J]. Acta Electronica, 1971, 14(2): 245-262.
[9] 刘术林, 彭磊, 许志清, 等. 高性能微通道板除气过程中电阻的变化[J]. 应用光学, 2007, 28(6): 732-736.
[10] 徐江涛. 二代近贴管微通道板（MCP）电子清刷技术[J]. 应用光学, 2001, 22(4): 23-26.
[11] 韦亚一, 陶兆民. 微通道板大量放气的原因[J]. 红外技术, 1993, 15(1): 45-47.
[12] 赵文锦. 微通道板及其真空处理工艺研究[J]. 真空电子技术, 1999, 2(2): 51-54.
[13] 孙立群, 向世明, 白丽华, 等. 微光图像光子计数器像管等效背景测试研究[J]. 应用光学, 1996, 17(1): 7-11.
[14] 朱宇峰, 向世明. 噪声对光子计数成像质量的影响[J]. 应用光学, 2008, 29(Sup.): 34-37.
[15] 白晓红, 白永林, 刘百玉, 等. 一种双MCP 选通型30～40 ps 软X射线分幅相机[J]. 光子学报, 2008, 37(7): 1351-1355.
[16] 徐江涛. 双微通道板光电倍增管的研究[J]. 真空科学与技术, 2000, 20(5): 358-360.
[17] 程宏昌, 石峰, 侯志鹏, 等. 微通道板(MCP) 电子清刷用电子枪的设计[J]. 应用光学, 2007, 28(5): 582-586.
[18] Adrian Martin, John Vallerga, Jason McPhate, et al. Further scrubbing and quantum efficiency results of the HST-COS far ultraviolet detector[J]. Proceedings of SPIE, 2003, 4854: 526-531.
[19] 刘术林, 邓广绪, 严诚, 等. MCP 增益与首次碰撞时电子能量关系的试验研究[J]. 红外技术, 2011, 33(6): 354-356.
[20] 张洋, 黄永刚, 刘辉, 等. 阳极氧化铝微通道板研究的进展[J]. 红外技术, 2012, 34(7): 427-432.
冯刘, 刘晖, 张连东, 高翔, 苗壮, 程宏昌, 贺英萍, 史鹏飞. 电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响[J]. 红外技术, 2013, 35(5): 295. FENG Liu, LIU Hui, ZHANG Lian-dong, GAO Xiang, MIAO Zhuang, CHENG Hong-chang, HE Ying-ping, SHI Peng-fei. Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers[J]. Infrared Technology, 2013, 35(5): 295.
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