中国激光, 1998, 25 (6): 495, 网络出版: 2006-10-18
用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数
S-parameters Measurement of Semiconductor Microwave Devices by Ultrashort Optical Pulses
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | -- |
栏目: | 实验技术与元件 |
项目基金: | 863计划光电子主题和国家自然科学基金资助课题。 |
收稿日期: | 1997-01-03 |
修改稿日期: | 1997-05-05 |
网络出版日期: | 2006-10-18 |
通讯作者: | |
备注: | -- |
袁树忠, 潘家齐, 吕福云, 范万德, 李献元. 用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数[J]. 中国激光, 1998, 25(6): 495. 袁树忠, 潘家齐, 吕福云, 范万德, 李献元. S-parameters Measurement of Semiconductor Microwave Devices by Ultrashort Optical Pulses[J]. Chinese Journal of Lasers, 1998, 25(6): 495.