用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数

袁树忠; 潘家齐; 吕福云; 范万德; 李献元

中国激光, 1998, 25 (6): 495, 网络出版: 2006-10-18

用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数

S-parameters Measurement of Semiconductor Microwave Devices by Ultrashort Optical Pulses

袁树忠潘家齐吕福云范万德李献元

作者单位

南开大学现代光学研究所国家教委光学信息技术科学开放实验室,天津 300071

图 & 表

袁树忠, 潘家齐, 吕福云, 范万德, 李献元. 用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数[J]. 中国激光, 1998, 25(6): 495. 袁树忠, 潘家齐, 吕福云, 范万德, 李献元. S-parameters Measurement of Semiconductor Microwave Devices by Ultrashort Optical Pulses[J]. Chinese Journal of Lasers, 1998, 25(6): 495.