半导体光电, 2019, 40 (5): 615, 网络出版: 2019-11-05
基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究
Reliability Screening Method for Optoelectronic Coupled Devices Based on Low-Frequency Electronic Noise
基本信息
| DOI: | 10.16818/j.issn1001-5868.2019.05.003 |
| 中图分类号: | TN364 |
| 栏目: | 光电器件 |
| 项目基金: | 广东省科技计划项目(2018B010142001). |
| 收稿日期: | 2019-04-30 |
| 修改稿日期: | -- |
| 网络出版日期: | 2019-11-05 |
| 通讯作者: | 余永涛 (yuyt2010@163.com) |
| 备注: | -- |
余永涛, 支越, 陈勇国, 罗宏伟, 王小强, 罗军. 基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究[J]. 半导体光电, 2019, 40(5): 615. YU Yongtao, ZHI Yue, CHEN Yongguo, LUO Hongwei, WANG Xiaoqiang, LUO Jun. Reliability Screening Method for Optoelectronic Coupled Devices Based on Low-Frequency Electronic Noise[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2019, 40(5): 615.
PDF全文
