基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究

余永涛; 支越; 陈勇国; 罗宏伟; 王小强; 罗军

doi:doi:10.16818/j.issn1001-5868.2019.05.003

半导体光电, 2019, 40 (5): 615, 网络出版: 2019-11-05

基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究

Reliability Screening Method for Optoelectronic Coupled Devices Based on Low-Frequency Electronic Noise

余永涛 ^*支越陈勇国罗宏伟王小强罗军

作者单位

工业和信息化部电子第五研究所, 广州 510610

补充材料

余永涛, 支越, 陈勇国, 罗宏伟, 王小强, 罗军. 基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究[J]. 半导体光电, 2019, 40(5): 615. YU Yongtao, ZHI Yue, CHEN Yongguo, LUO Hongwei, WANG Xiaoqiang, LUO Jun. Reliability Screening Method for Optoelectronic Coupled Devices Based on Low-Frequency Electronic Noise[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2019, 40(5): 615.