光学学报, 2020, 40 (14): 1431002, 网络出版: 2020-07-23   

磁控共溅射制备Si掺杂Al薄膜的应力研究 下载: 974次

Study on Stress in Si-Doped Al Thin Films Prepared by Magnetron Co-Sputtering
作者单位
1 同济大学物理科学与工程学院, 上海 200092
2 中国科学院上海光学精密机械研究所薄膜光学实验室, 上海 201800
3 中国科学院强激光材料重点实验室, 上海 201800
引用该论文

朱京涛, 周涛, 朱杰, 赵娇玲, 朱航宇. 磁控共溅射制备Si掺杂Al薄膜的应力研究[J]. 光学学报, 2020, 40(14): 1431002.

Jingtao Zhu, Tao Zhou, Jie Zhu, Jiaoling Zhao, Hangyu Zhu. Study on Stress in Si-Doped Al Thin Films Prepared by Magnetron Co-Sputtering[J]. Acta Optica Sinica, 2020, 40(14): 1431002.

引用列表
1、 脉冲直流溅射Zr薄膜的微结构和应力研究光学学报, 2021, 41 (18): 1831001

朱京涛, 周涛, 朱杰, 赵娇玲, 朱航宇. 磁控共溅射制备Si掺杂Al薄膜的应力研究[J]. 光学学报, 2020, 40(14): 1431002. Jingtao Zhu, Tao Zhou, Jie Zhu, Jiaoling Zhao, Hangyu Zhu. Study on Stress in Si-Doped Al Thin Films Prepared by Magnetron Co-Sputtering[J]. Acta Optica Sinica, 2020, 40(14): 1431002.

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