光学学报, 2016, 36 (2): 0230001, 网络出版: 2016-01-25   

基于短波红外成像光谱仪的矿石光谱测量

Mineral Spectrum Measurement Based on Shortwave Infrared Imaging Spectrometer
孙慈 1,*姚雪峰 1,2崔继承 1尹禄 1,2杨晋 1,2
作者单位
1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033
2 中国科学院大学, 北京 100049
基本信息
DOI: 10.3788/aos201636.0230001
中图分类号: O433.1
栏目: 光谱学
项目基金: 国家重大科学仪器设备开发专项项目(2014YQ120351)、国家重大科研装备研制项目(ZDYZ2008-1)、吉林省重大 科技攻关项目(09ZDGG005)
收稿日期: 2015-07-15
修改稿日期: 2015-09-21
网络出版日期: 2016-01-25
通讯作者: 孙慈 (sunci1822@163.com)
备注: --

孙慈, 姚雪峰, 崔继承, 尹禄, 杨晋. 基于短波红外成像光谱仪的矿石光谱测量[J]. 光学学报, 2016, 36(2): 0230001. Sun Ci, Yao Xuefeng, Cui Jicheng, Yin Lu, Yang Jin. Mineral Spectrum Measurement Based on Shortwave Infrared Imaging Spectrometer[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(2): 0230001.

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