基于短波红外成像光谱仪的矿石光谱测量

孙慈; 姚雪峰; 崔继承; 尹禄; 杨晋

doi:doi:10.3788/aos201636.0230001

光学学报, 2016, 36 (2): 0230001, 网络出版: 2016-01-25

基于短波红外成像光谱仪的矿石光谱测量

Mineral Spectrum Measurement Based on Shortwave Infrared Imaging Spectrometer

孙慈 ^1,*姚雪峰 ^1,2崔继承 ¹尹禄 ^1,2杨晋 ^1,2

作者单位

¹ 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林长春 130033

² 中国科学院大学, 北京 100049

补充材料

孙慈, 姚雪峰, 崔继承, 尹禄, 杨晋. 基于短波红外成像光谱仪的矿石光谱测量[J]. 光学学报, 2016, 36(2): 0230001. Sun Ci, Yao Xuefeng, Cui Jicheng, Yin Lu, Yang Jin. Mineral Spectrum Measurement Based on Shortwave Infrared Imaging Spectrometer[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(2): 0230001.