中国激光, 2017, 44 (1): 0103001, 网络出版: 2017-01-10   

近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷 下载: 1003次

Identifying Defects in Thin Film of High Power Laser Lens by Using Near Field Microimaging Method
作者单位
1 贵州大学贵州省光电子技术及应用重点实验室, 贵州 贵阳 550025
2 贵州大学大数据与信息工程学院, 贵州 贵阳 550025
引用该论文

白忠臣, 黄兆岭, 郝礼才, 陆安江, 秦水介. 近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷[J]. 中国激光, 2017, 44(1): 0103001.

Bai Zhongchen, Huang Zhaoling, Hao Licai, Lu Anjiang, Qin Shuijie. Identifying Defects in Thin Film of High Power Laser Lens by Using Near Field Microimaging Method[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(1): 0103001.

引用列表
1、 TiN纳米粒子增强CdSe/Al2O3异质结荧光的研究中国激光, 2020, 47 (9): 913001
2、 278 nm全固态激光系统倍频分离膜的研制中国激光, 2019, 46 (12): 1203002
3、 基于量子点荧光猝灭法的蛋白质检测芯片激光与光电子学进展, 2019, 56 (6): 062601

白忠臣, 黄兆岭, 郝礼才, 陆安江, 秦水介. 近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷[J]. 中国激光, 2017, 44(1): 0103001. Bai Zhongchen, Huang Zhaoling, Hao Licai, Lu Anjiang, Qin Shuijie. Identifying Defects in Thin Film of High Power Laser Lens by Using Near Field Microimaging Method[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(1): 0103001.

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