中国激光, 2017, 44 (1): 0103001, 网络出版: 2017-01-10
近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷 
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Identifying Defects in Thin Film of High Power Laser Lens by Using Near Field Microimaging Method
基本信息
| DOI: | 10.3788/CJL201744.0103001 |
| 中图分类号: | O439 |
| 栏目: | 材料与薄膜 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(11204046)、科技部国际科技合作专项(2014DFA00670)、贵州省国际科技合作项目(黔科合外G字[2011]7001号)、贵阳市科技局项目(筑科合同[2012103]71号) |
| 收稿日期: | 2016-09-29 |
| 修改稿日期: | 2016-11-02 |
| 网络出版日期: | 2017-01-10 |
| 通讯作者: | 白忠臣 (yufengvc@163.com) |
| 备注: | -- |
白忠臣, 黄兆岭, 郝礼才, 陆安江, 秦水介. 近场显微成像法识别高功率激光镜片薄膜内部缺陷[J]. 中国激光, 2017, 44(1): 0103001. Bai Zhongchen, Huang Zhaoling, Hao Licai, Lu Anjiang, Qin Shuijie. Identifying Defects in Thin Film of High Power Laser Lens by Using Near Field Microimaging Method[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(1): 0103001.
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