子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法

张明意; 李新南

光电工程, 2006, 33 (8): 117, 网络出版: 2007-11-14

子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法

Influence of tilt in stitching interferometry and how to eliminate it

张明意 ^1,2李新南 ¹

作者单位

¹ 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042

² 中国科学院研究生院,北京,100039

补充材料

张明意, 李新南. 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法[J]. 光电工程, 2006, 33(8): 117. 张明意, 李新南. Influence of tilt in stitching interferometry and how to eliminate it[J]. Opto-Electronic Engineering, 2006, 33(8): 117.