光电工程, 2010, 37 (2): 74, 网络出版: 2010-05-28  

标准硅球直径测量中的光路对准

Beam Alignment for Diameter Measurement of the Single Crystal Silicon Sphere
作者单位
1 天津大学 精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津 300072
2 中国计量科学研究院,北京 100013
基本信息
DOI: 10.3969/j.issn.1003-501x.2010.02.014
中图分类号: TB921;TH741.1
栏目: 光电测量
项目基金: 国家科技支撑计划资助项目(2006BAF06B06).
收稿日期: 2009-07-28
修改稿日期: 2009-09-15
网络出版日期: 2010-05-28
通讯作者: 康岩辉 (yanhuikang@163.com)
备注: --

康岩辉, 邾继贵, 罗志勇, 叶声华. 标准硅球直径测量中的光路对准[J]. 光电工程, 2010, 37(2): 74. KANG Yan-hui, ZHU Ji-gui, LUO Zhi-yong, YE Sheng-hua. Beam Alignment for Diameter Measurement of the Single Crystal Silicon Sphere[J]. Opto-Electronic Engineering, 2010, 37(2): 74.

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