红外与激光工程, 2016, 45 (6): 0624001, 网络出版: 2016-07-26
受激辐射损耗超分辨成像技术研究
Super resolution imaging technology of stimulated emission depletion
基本信息
| DOI: | 10.3788/irla201645.0624001 |
| 中图分类号: | O439 |
| 栏目: | 前沿光学成像技术 |
| 项目基金: | 国家重大科研装备研制项目(ZDYZ2013-1) |
| 收稿日期: | 2015-10-20 |
| 修改稿日期: | -- |
| 网络出版日期: | 2016-07-26 |
| 通讯作者: | 魏通达 (weitd@sibet.ac.cn) |
| 备注: | -- |
魏通达, 张运海, 杨皓旻. 受激辐射损耗超分辨成像技术研究[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(6): 0624001. Wei Tongda, Zhang Yunhai, Yang Haomin. Super resolution imaging technology of stimulated emission depletion[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(6): 0624001.
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