红外与激光工程, 2016, 45 (6): 0624001, 网络出版: 2016-07-26
受激辐射损耗超分辨成像技术研究
Super resolution imaging technology of stimulated emission depletion
Metrics
摘要访问:6351次
PDF 下载:33次
全文浏览:1次
总被查询:3次
魏通达, 张运海, 杨皓旻. 受激辐射损耗超分辨成像技术研究[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(6): 0624001. Wei Tongda, Zhang Yunhai, Yang Haomin. Super resolution imaging technology of stimulated emission depletion[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(6): 0624001.