受激辐射损耗超分辨成像技术研究

魏通达; 张运海; 杨皓旻

doi:doi:10.3788/irla201645.0624001

红外与激光工程, 2016, 45 (6): 0624001, 网络出版: 2016-07-26

受激辐射损耗超分辨成像技术研究

Super resolution imaging technology of stimulated emission depletion

魏通达 ^*张运海杨皓旻

作者单位

中国科学院苏州生物医学工程技术研究所江苏省医用光学重点实验室, 江苏苏州 215163

图 & 表

魏通达, 张运海, 杨皓旻. 受激辐射损耗超分辨成像技术研究[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(6): 0624001. Wei Tongda, Zhang Yunhai, Yang Haomin. Super resolution imaging technology of stimulated emission depletion[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(6): 0624001.