激光与光电子学进展, 2012, 49 (9): 091404, 网络出版: 2012-07-13
980 nm半导体激光器长期老化结果及失效分析 下载: 667次
Long-Term Aging and Failure Analysis for 980 nm Laser Diodes
基本信息
DOI: | 10.3788/lop49.091404 |
中图分类号: | TN958 |
栏目: | 激光器与激光光学 |
项目基金: | 中国政法大学青年教师学术创新团队资助项目和证据科学教育部重点实验室(中国政法大学)开放基金(2011KFKT04)资助课题。 |
收稿日期: | 2012-03-05 |
修改稿日期: | 2012-05-17 |
网络出版日期: | 2012-07-13 |
通讯作者: | 刘斌 (rays_liu@126.com) |
备注: | -- |
刘斌, 刘媛媛, 崔碧峰. 980 nm半导体激光器长期老化结果及失效分析[J]. 激光与光电子学进展, 2012, 49(9): 091404. Liu Bin, Liu Yuanyuan, Cui Bifeng. Long-Term Aging and Failure Analysis for 980 nm Laser Diodes[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2012, 49(9): 091404.