激光与光电子学进展, 2012, 49 (9): 091404, 网络出版: 2012-07-13   

980 nm半导体激光器长期老化结果及失效分析 下载: 667次

Long-Term Aging and Failure Analysis for 980 nm Laser Diodes
作者单位
1 证据科学教育部重点实验室(中国政法大学), 北京 100088
2 中国科学院半导体研究所, 北京 100083
3 北京工业大学电子信息与控制工程学院, 北京 100024
知识挖掘
相关论文
本文相似领域研究进展,
知识服务
本文主要研究领域论文发表情况:
本文研究领域论文发表情况(统计图):

刘斌, 刘媛媛, 崔碧峰. 980 nm半导体激光器长期老化结果及失效分析[J]. 激光与光电子学进展, 2012, 49(9): 091404. Liu Bin, Liu Yuanyuan, Cui Bifeng. Long-Term Aging and Failure Analysis for 980 nm Laser Diodes[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2012, 49(9): 091404.

本文已被 5 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!