斜入射干涉检测大口径碳化硅平面反射镜

刘兆栋; 陈磊; 韩志刚; 严庆伟; 朱日宏

doi:doi:10.3788/ope.20111907.1437

光学精密工程, 2011, 19 (7): 1437, 网络出版: 2011-08-15

斜入射干涉检测大口径碳化硅平面反射镜

Measurement of large aperture SiC flat mirrors by oblique incidence interferometry

刘兆栋 ^1,*陈磊 ¹韩志刚 ¹严庆伟 ²朱日宏 ¹

作者单位

¹ 南京理工大学电子工程与光电技术学院, 江苏南京 210094

² 南京中科天文仪器有限公司, 江苏南京 210042

引用该论文

刘兆栋, 陈磊, 韩志刚, 严庆伟, 朱日宏. 斜入射干涉检测大口径碳化硅平面反射镜[J]. 光学精密工程, 2011, 19(7): 1437.

LIU Zhao-dong, CHEN Lei, HAN Zhi-gang, YAN Qing-wei, ZHU Ri-hong. Measurement of large aperture SiC flat mirrors by oblique incidence interferometry[J]. Optics and Precision Engineering, 2011, 19(7): 1437.

引用列表

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