光学 精密工程, 2011, 19 (7): 1437, 网络出版: 2011-08-15
斜入射干涉检测大口径碳化硅平面反射镜
Measurement of large aperture SiC flat mirrors by oblique incidence interferometry
基本信息
| DOI: | 10.3788/ope.20111907.1437 |
| 中图分类号: | TH744.3;TB92 |
| 栏目: | 现代应用光学 |
| 项目基金: | 江苏省“六大人才高峰”基金资助项目(No.06E030) |
| 收稿日期: | 2010-09-13 |
| 修改稿日期: | 2010-11-18 |
| 网络出版日期: | 2011-08-15 |
| 通讯作者: | 刘兆栋 (liuzhaodong6@hotmail.com) |
| 备注: | -- |
刘兆栋, 陈磊, 韩志刚, 严庆伟, 朱日宏. 斜入射干涉检测大口径碳化硅平面反射镜[J]. 光学 精密工程, 2011, 19(7): 1437. LIU Zhao-dong, CHEN Lei, HAN Zhi-gang, YAN Qing-wei, ZHU Ri-hong. Measurement of large aperture SiC flat mirrors by oblique incidence interferometry[J]. Optics and Precision Engineering, 2011, 19(7): 1437.
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