光学学报, 2017, 37 (3): 0318004, 网络出版: 2017-03-08
超分辨定位成像中的像差表征和校正 下载: 1254次
Aberration Characterization and Correction in Super-Resolution Localization Microscopy
基本信息
DOI: | 10.3788/aos201737.0318004 |
中图分类号: | TH742 |
栏目: | “超分辨成像”专题 |
项目基金: | 国家自然科学基金(91332103, 81427801) |
收稿日期: | 2016-09-29 |
修改稿日期: | 2016-11-21 |
网络出版日期: | 2017-03-08 |
通讯作者: | 赵泽宇 (zzyhust0228@126.com) |
备注: | -- |
赵泽宇, 张肇宁, 黄振立. 超分辨定位成像中的像差表征和校正[J]. 光学学报, 2017, 37(3): 0318004. Zhao Zeyu, Zhang Zhaoning, Huang Zhenli. Aberration Characterization and Correction in Super-Resolution Localization Microscopy[J]. Acta Optica Sinica, 2017, 37(3): 0318004.