光学学报, 2017, 37 (3): 0318004, 网络出版: 2017-03-08
超分辨定位成像中的像差表征和校正 下载: 1254次
Aberration Characterization and Correction in Super-Resolution Localization Microscopy
显微 荧光显微镜 超分辨成像 像差校正 分辨率 定位精度 microscopy fluorescence microscopy super-resolution imaging aberration correction resolution localization precision
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