光子学报, 2012, 41 (9): 1090, 网络出版: 2012-08-31
基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定
Calibration of Characteristic Parameters for Xray Plane Crystal on the Automatic Xray Diffractometer
基本信息
| DOI: | 10.3788/gzxb20124109.1090 |
| 中图分类号: | TL81 |
| 栏目: | |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(No.11105129)资助 |
| 收稿日期: | 2012-01-12 |
| 修改稿日期: | 2012-03-06 |
| 网络出版日期: | 2012-08-31 |
| 通讯作者: | 杨国洪 (yangg_h@sina.com) |
| 备注: | -- |
杨国洪, 韦敏习, 侯立飞, 易涛, 李军, 刘慎业. 基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定[J]. 光子学报, 2012, 41(9): 1090. YANG Guohong, WEI Minxi, HOU Lifei, YI Tao, LI Jun, LIU Shenye. Calibration of Characteristic Parameters for Xray Plane Crystal on the Automatic Xray Diffractometer[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2012, 41(9): 1090.
PDF全文
