光子学报, 2012, 41 (9): 1090, 网络出版: 2012-08-31
基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定
Calibration of Characteristic Parameters for Xray Plane Crystal on the Automatic Xray Diffractometer
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杨国洪, 韦敏习, 侯立飞, 易涛, 李军, 刘慎业. 基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定[J]. 光子学报, 2012, 41(9): 1090. YANG Guohong, WEI Minxi, HOU Lifei, YI Tao, LI Jun, LIU Shenye. Calibration of Characteristic Parameters for Xray Plane Crystal on the Automatic Xray Diffractometer[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2012, 41(9): 1090.