基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定

杨国洪; 韦敏习; 侯立飞; 易涛; 李军; 刘慎业

doi:doi:10.3788/gzxb20124109.1090

光子学报, 2012, 41 (9): 1090, 网络出版: 2012-08-31

基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定

Calibration of Characteristic Parameters for Xray Plane Crystal on the Automatic Xray Diffractometer

杨国洪 ^*韦敏习侯立飞易涛李军刘慎业

作者单位

中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 四川绵阳 621900

补充材料

杨国洪, 韦敏习, 侯立飞, 易涛, 李军, 刘慎业. 基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定[J]. 光子学报, 2012, 41(9): 1090. YANG Guohong, WEI Minxi, HOU Lifei, YI Tao, LI Jun, LIU Shenye. Calibration of Characteristic Parameters for Xray Plane Crystal on the Automatic Xray Diffractometer[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2012, 41(9): 1090.