作者单位
摘要
北京工业大学 机械工程与应用电子技术学院 先进电子封装技术与可靠性试验室, 北京 100124
使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200 ℃进行了塑封料面、铜面和“缝”表面发射率的标定, 并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明: 直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定, 直接计算法可以应用在“缝”处、铜面发射率标定。塑封料发射率标定结果在0.97左右; “缝”处发射率标定值随着温度升高由0.17~0.35呈线性递增趋势变化; 铜面发射率标定值随温度升高出现先稳定后增大趋势。塑封料面、铜及“缝”处对空气透射率标定值在100%左右, 上下波动不超过2%。该实验结果可为红外热像仪测定QFN的使用温度及切割分离时的温度提供相应参数。
表面发射率 空气透射率 QFN封装 surface emissivity air transmittance QFN package 
红外与激光工程
2017, 46(9): 0917004

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