使用红外热像仪对未切割分离的QFN封装在40~200 ℃进行了塑封料面、铜面和“缝”表面发射率的标定, 并分别利用上述三面对实验环境的空气透射率进行了标定。结果表明: 直接计算法和直接调节法可以很好地应用于塑封料发射率标定, 直接计算法可以应用在“缝”处、铜面发射率标定。塑封料发射率标定结果在0.97左右; “缝”处发射率标定值随着温度升高由0.17~0.35呈线性递增趋势变化; 铜面发射率标定值随温度升高出现先稳定后增大趋势。塑封料面、铜及“缝”处对空气透射率标定值在100%左右, 上下波动不超过2%。该实验结果可为红外热像仪测定QFN的使用温度及切割分离时的温度提供相应参数。

红外测温仪器的精度和被测物体表面的发射率对测量物体红外辐射特性的准确性影响很大。为了提高物体表面发射率的计算精度, 先通过标准黑体对红外热像仪进行标定。然后, 利用标定好的红外热像仪测量温度, 计算出被测物体表面的发射率。将基于神经网络的红外热像仪标定方法应用到目标发射率的求解方法中, 有效地消除了热像仪的系统误差。测试装置简单, 测试结果准确。同时, 温度和发射率的精确测量为红外隐身材料的研制奠定了基础。

介绍了红外热像仪测温原理,分析了影响红外热像仪测温精度的因素,计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线。理论分析表明,目标表面发射率越高,红外热像仪测温精度越高。实验改变表面发射率的设置,计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度,得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时,目标表面发射率必须大于0.5的结果。最后,对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温,结果表明,材料表面发射率较高时,红外热像仪具有较好的测温精度。