1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033
2 中国科学院研究生院, 北京 100039
介绍了红外热像仪测温原理,分析了影响红外热像仪测温精度的因素,计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线。理论分析表明,目标表面发射率越高,红外热像仪测温精度越高。实验改变表面发射率的设置,计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度,得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时,目标表面发射率必须大于0.5的结果。最后,对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温,结果表明,材料表面发射率较高时,红外热像仪具有较好的测温精度。
表面发射率 红外热像仪 红外测温 测温精度 surface emissivity infrared thermal imager infrared temperature measurement temperature measuring accuracy
1 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春 130033
2 中国科学院研究生院,北京 100039
提出了一种评价光电经纬仪跟踪性能的新方法。该方法采用BP 网络结构进行系统辨识,得到光电经纬仪跟踪误差等效模型。为了提高BP 网络训练速度,对网络进行训练时采用了LM(Levenberg-Marquardt)算法。将等效正弦信号输入等效模型中,通过对输出数据进行处理,即可获得光电经纬仪跟踪性能评价结果。利用该方法得到的等效模型估计误差均值2.587 2e-006°≈0°,最大误差3.6″,标准差1.6″。结果表明基于BP 网络辨识的等效模型能够满足跟踪性能评价要求,实现了对光电经纬仪跟踪性能进行准确评价。
跟踪误差 光电经纬仪 BP 网络 Levenberg-Marquardt 算法 tracking error photoelectric theodolite BP neural network Levenberg-Marquardt algorithm
