在使用能量色散X射线荧光光谱仪定量分析钼铜矿中低含量Cu和Mo元素过程中, X光管的原级谱对测量结果影响非常大。 为了降低这一影响, 采用蒙特卡洛软件模拟了用Ag, Cu和Mo, Ti三种材质的滤片, 在不同厚度情况下对原级谱的影响。 模拟结果显示, 1 mm Ti滤片测铜钼元素效果优于0.2 mm Ag滤片、 0.02 mm Cu和0.1 mm Mo滤片。 根据模拟结果, 在实验室用三种滤片对样品进行了实测, 谱线图对比显示, 用Cu+Mo作滤片测钼元素时, 本底计数大于200, 用Ag和Ti作滤片测钼元素, 几乎没有本底影响。 但相同的样品, 用Ti作滤片测得钼最高计数为800左右, 而用Ag作滤片时测得钼最高计数为300左右。 由此可见, 用Ti作滤片测钼元素时, X光管原级谱对被测量元素的干扰影响小, 其本底低于用银滤片和铜钼滤片。 Ti滤片在降低本底影响的同时, 钼的计数率最高, 说明射线强度损失最少。 用Cu+Mo作滤片测铜元素时, 铜最高计数为300, 用Ag作滤片时铜最高计数为180左右, 而用Ti作滤片铜最高计数为500左右。 由此可见, 在铜元素含量较低时, 用Ti作滤片测铜元素, 铜的计数率最高, 射线强度损失最少。 通过公式计算显示: 用1 mm Ti滤片测钼铜矿中铜的检出限为5.63 mg·kg-1, 钼的检出限为1.39 mg·kg-1, 检出限明显降低。 采用不同含量的标准样品进行测量与化学分析拟合, 通过工作曲线可见, 高、 低含量的样品均具有良好的线性关系, 误差水平符合正常化学分析误差标准, R2为0.99及以上, 说明1 mm Ti滤片测量精密度高。 同一个样品进行多次重复测量, 其Cu元素的RSD(%)=0.59, Mo元素的RSD(%)=0.3, 均小于1, 表明仪器测量稳定性好, 样品测试结果具有重现性。 研究结果为使用能量色散X射线荧光光谱仪测定钼铜矿中的钼和铜滤光片的选择及其厚度的确定提供了可信的依据, 推荐选用1 mm Ti滤片。 经过实际现场的检验。 该方法稳定可靠, 具有重要的实际应用价值。

针对核能谱解析中，单能峰会受到低能拖尾和高能拖尾的影响，给出了先根据单能峰半高宽读数值来确定数据拟合窗，再运用快速迭代算法进行高斯函数拟合的方法。文中先进行了含噪高斯信号拟合实验，然后在实测 X荧光能谱中对不同含量的单能峰进行快速高斯拟合应用。实验表明，本方法对高含量核素的单能峰拟合效果良好，对高背景低含量核素的单能峰需先进行平滑处理再做拟合。

针对矿山尾矿中微量银元素测定的技术难题, 提出了一种基于超短光路原理的能量色散X荧光能谱快速检测的方法。 提高元素测量分辨率, 提高样品分析效率, 降低光管功率, 延长仪器使用寿命。 能谱系统优化了滤片以及探测器屏蔽物等设计, 准直器采用对X射线基本无散射的聚四氟乙烯, 达到微量银元素的检测要求。 实际尾矿测试中, 银的检出限达到01 mg·kg-1, RSD在01%～26%之间, 准确度在87%～115%之间。 对比尾矿、 原矿及精矿的检测实验, 证明了在能量色散X荧光能谱中引入超短光路设计方法, 能够提升系统峰/本底比, 满足微量银元素的检测要求。

针对传统能量色散X荧光仪(energy dispersive X-ray fluorescence, EDXRF)分析土壤中微量重金属测量精确度低的问题, 提出了一种X荧光仪改进方法。 为了减少反射X射线的影响, 入射X射线垂直照射样品, 探测器平行放置与样品一侧且垂直于X射线。 样品与探测器之间由准直器连接。 对国家标样测量结果表明, 仪器对Mo, Zn, Cu, Pb, Zr, Nb的检出限为0.4, 6.68, 1.97, 6.84, 1.60, 7.59 mg·kg-1。 各元素对数偏差在0～0.05之间。 元素含量在三倍检出限以上RSD%(GBW)小于7, 元素含量在三倍检出限内RSD%(GBW)小于15。 为了验证改进后X荧光仪测量效果, 在大兴安岭地区采集土壤样品与传统荧光仪进行比较分析。 改进X荧光仪提高了土壤中微量重金属测量精度, 满足野外地质普查要求。