1 中国科学院微电子研究所, 北京 100029
2 中国科学院大学, 北京 100049
匀光系统的均匀性是实现深紫外CMOS图像传感器参数测试的关键。根据傅里叶光学理论, 结合ArF准分子激光输出光斑特点, 设计了复眼阵列匀光系统的初始结构, 并在ZEMAX非序列模式下建立了匀光系统模型。针对ZEMAX光源中光线采样随机性的特点及匀光系统均匀性的要求, 对追迹光线数目及复眼阵列中透镜元个数进行了优化。在透镜元大小为1mm、采用1亿根光线并做30次平均后, 在12mm×12mm光斑范围内获得了均匀性为0.986的均匀照明光斑, 满足CMOS图像传感器测试对光斑均匀性优于0.97的要求。
深紫外 CMOS图像传感器 匀光系统 光学设计 deep ultraviolet CMOS image sensor homogenizing optical system optical design
1 中国科学院光电研究院, 北京 100094
2 中国科学院微电子研究所, 北京 100029
3 中国科学院大学光电学院, 北京 100049
根据光谱共焦位移传感器的工作原理及线性轴向色散条件,选择3种色散物镜用玻璃材料N-KZFS11、N-SF66和N-PK52A,并结合像差理论设计了由3个单透镜和2个双胶合透镜组合成的线性色散物镜初始结构。利用Zemax光学设计软件对色散物镜的初始结构进行优化和公差分析。结果表明:在450~650 nm波长范围内,各波长弥散斑均远小于艾里斑,色散物镜测量范围可达1.05 mm,轴向色散与波长之间的线性判定系数R2达0.997,理论分辨率可达105 nm。
光学设计 光谱共焦位移传感器 色散物镜 线性度 公差分析
