红外焦平面器件广泛应用于**安全、空间探测、环境监测、工业控制等各个领域, 但是由于量少价高的特点, 可靠性成为其技术发展的主要瓶颈之一。盲元是红外焦平面的失效像元, 是对器件工作特性的反映, 因此, 可以用作可靠性评价和失效分析手段的重要参数。以出厂时间为界, 将盲元分为初始盲元和使用盲元, 并分析了其类型、性质、数量、位置及分布等方面的特征。根据红外焦平面器件结构特点, 从探测器、互联铟柱和读出电路三个方面分析了盲元形成原因, 全面探讨了盲元分析在研究器件损伤应力、失效位置、损伤机理上的应用, 以及准确评价器件性能和提高盲元剔除精度的可行性, 为器件结构的优化和工艺的改进提供了支撑。

使用最新版本的Space Radiation 7.0软件对典型卫星轨道（包括地球同步轨道、中地轨道和低地轨道）的空间辐射环境进行提取和计算,分析不同空间天气和屏蔽条件下的轨道离子通量-能量谱和通量-线性能量沉积（LET）谱特点。以一款SOI SRAM为例,结合地面加速器重离子试验获得的单粒子翻转截面-LET值关系曲线,预计该器件的在轨软错误率（SER）,并分析关键参数对预计结果的影响规律和内在机理。结果表明,使用Space Radiation软件的四种输入模式获得的预计结果可相差5倍左右；灵敏区厚度的增大导致在轨SER降低数个数量级,原因为灵敏区厚度的设置与灵敏区平均投影面积和符合条件的空间离子通量的大小直接相关；漏斗长度的大小对预计结果有一定的影响。最后,对SER预计模型的适用性和发展趋势进行了讨论。

红外焦平面探测器制冷组件的可靠性研究对推进组件工程化应用具有重要意义。介绍了国外在组件的可靠性模型、失效模式、加速应力以及可靠性试验等方面的研究进展,并对国内的组件可靠性研究状况作了简要分析,总结了对组件可靠性研究的总体思路,为国内红外焦平面探测器制冷组件的可靠性研究提供参考。