使用最新版本的Space Radiation 7.0软件对典型卫星轨道（包括地球同步轨道、中地轨道和低地轨道）的空间辐射环境进行提取和计算,分析不同空间天气和屏蔽条件下的轨道离子通量-能量谱和通量-线性能量沉积（LET）谱特点。以一款SOI SRAM为例,结合地面加速器重离子试验获得的单粒子翻转截面-LET值关系曲线,预计该器件的在轨软错误率（SER）,并分析关键参数对预计结果的影响规律和内在机理。结果表明,使用Space Radiation软件的四种输入模式获得的预计结果可相差5倍左右；灵敏区厚度的增大导致在轨SER降低数个数量级,原因为灵敏区厚度的设置与灵敏区平均投影面积和符合条件的空间离子通量的大小直接相关；漏斗长度的大小对预计结果有一定的影响。最后,对SER预计模型的适用性和发展趋势进行了讨论。

为获得808 nm单巴条(bar)大功率半导体激光器寿命指标，研制了10工位大功率半导体激光器寿命实验在线监测系统，完成了3组寿命评价实验，这3组实验条件分别为温度25 ℃、电流100 A，温度50 ℃、电流100 A，温度50 ℃、电流115 A。采用线性回归分析、最小二乘法原理及拟合优度检验等统计学相关知识，获得了单bar大功率半导体激光器的功率退化模型，基此确定大功率半导体激光器的外推寿命为2.86×109次脉冲次数。同传统加速寿命评价实验方法相比，基于参数退化模型的寿命外推方法具有寿命评价时间短、准确性高的优点。

介绍了高功率半导体激光器的结构特点、失效机理和热产生机制等方面的内容。就寿命评价方面展开讨论，详细分析了高功率半导体激光器寿命评价的难点、现有方法以及国内外发展状况，最后就寿命评价系统及寿命试验提出了一些建议。高功率半导体激光器在工业加工、**航天等领域的巨大应用前景推动其可靠性与寿命的发展，而其可靠性的提高和寿命的延长会大大拓宽其应用领域。