探测距离是红外系统应用的重要评价指标，随着制冷型红外探测器的发展，红外系统自身热辐射已成为探测距离提升的重要限制性因素，冷光学设计是抑制自身热辐射的必然选择，因此对冷光学制冷温度指标进行评估和优化成为红外系统设计分析的新问题。文中从红外系统自身热辐射和经典探测距离理论出发，推导了包含系统噪声项的红外系统探测距离计算公式，提出了分布式探测距离的分析方法。以透射式光学系统为例，进行了影响因素灵敏度分析。通过对探测器焦平面进行分区域数据处理，得到了对应探测距离的主要影响表面。在此基础上，分析了在对主要影响表面进行低温处理前后（293.15 K制冷到173.15 K）探测距离的变化。结果表明，探测距离最大提升量达到43.32%，提升效果显著。该方法可为红外系统冷光学设计和评估提供参考。