画面闪烁(Flicker)是TFT-LCD画面品质评价的重要指标。文章基于ΔVp及闪烁发生机理, 通过一系列实验, 首先研究了Vcom对闪烁的影响, 结果表明Vcom对闪烁具有显著影响; 随着闪烁灰阶升高, 最佳闪烁呈逐渐减小趋势, 常白模式产品最佳闪烁对应Vcom逐渐减小, 而常黑模式产品最佳闪烁对应Vcom逐渐增加。其次, 研究了VGH、VGL对闪烁影响, 结果表明VGH、VGL变化对闪烁均有显著影响; 同一闪烁灰阶, VGH增加不会影响最佳闪烁, 但对应Vcom逐渐减小, 而VGL增加最佳闪烁逐渐减小, 但对应Vcom逐渐增加。最后, 提出一种可以预测不同灰阶闪烁水平的定量分析方法, 通过该方法计算得到的闪烁水平与VESA标准下FMA测试法所得的闪烁值趋势一致, 常白模式和常黑模式产品线性相关系数均达0.95以上, 证明该方法可以用来预测不同灰阶闪烁水平。这些研究对改善TFT-LCD 闪烁问题提供了分析方法和解决思路。

电容耦合和TFT漏电引起的垂直串扰问题在高分辨率液晶显示器产品上变得较为突出, 大大影响了产品良率。业内通常采用VESA 2.0标准利用窗口画面测试串扰水平, 但目前还没有一种预测串扰水平的定量分析方法。本文从垂直串扰形成机理出发, 提出了一种可预测垂直串扰水平的定量分析方法, 可预测出不同模式产品垂直串扰最严重的画面, 有利于我们更好地研究和分析产品的品质。首先, 通过分析垂直串扰机理, 得到了垂直串扰现象与源电压差之间的定性对应关系。然后, 通过分析V-T曲线, 得到窗口画面下的亮度变化与源电压差之间的定量关系|ΔL|=kα|ΔV|。通过PCB板上的输出节点可以得到各灰阶对应的正负源电压, 依据灰阶画面对应的源电压找到V-T曲线上对应的点可求出对应的斜率k值, 依据漏电机理可求出对应的源电压差值|ΔV|, |ΔV|变化不大时可认为漏电电压降系数α为定值, 故可计算出不同灰阶背景画面在窗口画面影响下的亮度变化值|ΔL|, 将|ΔL|除以V-T曲线上对应灰阶的亮度值即可得到串扰值, 通过比较不同窗口画面的串扰计算值即可得出串扰最严重的画面。最后, 采用VESA 2.0标准方法测试不同窗口画面下的垂直串扰水平, 与此方法的计算结果进行比较, 串扰变化趋势吻合较好, TN和ADS模式下的线性相关系数分别达0.98和0.93以上。结果表明, 此方法可以用来定量地研究产品垂直串扰的问题。

基于喇曼散射和光时域反射原理, 分析后向散射光中反斯托克斯光和斯托克斯光光强比值, 研制了基于多模光纤的分布式喇曼温度传感系统.采用对低、高温段温度分别进行拟合的动态温度标定方案, 将测温精度提升至±1 ℃.分别对系统温度分辨率、测温精度、空间分辨率以及重复性进行了实验, 结果表明: 系统温度分辨率为1 ℃, 空间分辨率为1 m, 系统稳定性良好, 能够适应复杂环境变化.