作者单位
摘要
1 上海理工大学 理学院,上海 200093
2 中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083
在测试中波碲镉汞光伏器件的瞬态响应时,当激光光斑照射器件表面位置距离光敏面较远时,器件表现为特殊的双峰脉冲响应现象,分析表明出现这种异常双脉冲现象的原因是光敏区内的少子漂移和光敏区外侧向收集的少子扩散有时间上的差异。通过对器件施加反向偏压,脉冲响应随反向偏压的增大由双峰变成单峰的实验结果,验证了少子侧向收集是导致器件形成双峰的主要原因。对第二个峰拟合得到p区的少数载流子寿命。将瞬态响应获得的少子寿命与该p型中波碲镉汞材料的理论计算和光电导衰退法得到的少子寿命相对比,发现三种方式得到的少子寿命随温度的变化趋势基本一致,这说明了可以通过瞬态光响应得到中波碲镉汞器件的少子寿命。
瞬态响应 少子寿命 少子侧向收集 光电导衰退 HgCdTe HgCdTe transient response minority carrier lifetime minority carrier lateral collection photoconductive decay 
半导体光电
2023, 44(4): 596
作者单位
摘要
中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083
PN结分别制备在HgCdTe外延薄膜材料的Cd组分非线性分布区和线性分布区的高组分端,研究了具有组分梯度的HgCdTe探测器的光电特性。计算不同温度下组分梯度产生的内建电场,结果显示Cd组分线性分布产生的内建电场在100~200 V/cm,而Cd组分非线性分布使得样品表面薄层的内建电场高达2 000 V/cm,推测组分梯度产生的内建电场对光生少子运动的影响是引起两个样品光电性能差异的主要原因。通过分析样品响应率随温度的三种不同变化趋势,提出利用温度调控组分梯度产生的内建电场,有利于降低空间电荷效应,为大注入下提高HgCdTe探测器的饱和阈值提供了一种新的设计思路。
组分梯度 内建电场 HgCdTe外延薄膜材料 归一化响应光谱 响应率 component gradient built-in electric field HgCdTe epitaxial material normalized response spectrum responsivity 
红外与毫米波学报
2023, 42(3): 285
作者单位
摘要
中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083
针对不同项目研制过程中碲镉汞线列光导器件在筛选测试和应用中出现的失效模式进行了归纳和总结,并综合碲镉汞材料参数、器件结构尺寸、器件物理、器件制备工艺和器件测试等几个方面因素对器件失效的可能原因进行了分析,首次提出碲镉汞线列光导器件的优值因子作为失效判据,为进一步理解碲镉汞线列光导器件的物理机理以及更好优化器件的筛选过程提供了参考,为碲镉汞线列光导器件应用中出现的失效问题提供了分析和解决的方向。
碲镉汞 光导器件 失效分析 HgCdTe photoconductive detector photoconductor failure analysis 
红外与毫米波学报
2022, 41(6): 1009
Author Affiliations
Abstract
1 Center of Interferometer R&D, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
2 Key Laboratory of Infrared System Detection and Imaging Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
3 Third Engineering Department, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
4 Infrared Imaging Material and Device Laboratory, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
5 Key Laboratory of Infrared Imaging Materials and Detectors, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
6 Department of Optical Coatings and Materials, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
7 Space Cryocooler System Laboratory, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
8 State Key Laboratory of Transducer Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200082, China
To measure the global atmospheric three-dimensional distribution and change of temperature and humidity is one of the key areas in atmospheric remote sensing detection; it is also a new research and development direction in the field of meteorological satellite application. As a main element of China second generation of geostationary meteorological satellite Fengyun 4 (FY-4), which was launched on Dec. 11, 2016, the Geostationary Interferometric Infrared Sounder (GIIRS) is the first interferometric infrared sounder working on geostationary orbit internationally. It is used for vertical atmospheric sounding and gains atmospheric temperature, humidity, and disturbances. The combination of Fourier transform spectrometer technology and infrared detectors makes GIIRS have high spectral resolution and large coverage over spatial areas. With this kind of instrument, meteorological satellites can improve the capabilities for severe weather event monitoring and numerical weather prediction. Here a concise review of the GIIRS development project, including its history, missions and functions, technical design, key technologies, system integration, calibration and in-orbit operation status, etc., is presented.
120.3180 Interferometry 120.4820 Optical systems 120.6200 Spectrometers and spectroscopic instrumentation 300.6300 Spectroscopy, Fourier transforms 
Chinese Optics Letters
2018, 16(11): 111203
乔辉 1,2,*陈心恬 1,3赵水平 1兰添翼 1[ ... ]李向阳 1
作者单位
摘要
1 中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
2 中国科学院大学, 北京 100049
3 山东大学 信息科学与工程学院, 山东 济南 250100
针对化学机械抛光工艺对碲镉汞材料所产生的亚表面损伤层进行了研究。利用椭圆偏振光谱方法对经过腐蚀剥层的碲镉汞材料表面进行了光学表征, 认为化学机械抛光工艺造成的亚表面损伤层的深度大概为抛光工艺中所使用研磨颗粒直径的15~20倍。通过少子寿命表征和光导器件性能的对比测试, 认为将该亚表面损伤层完全去除后, 材料的少子寿命和器件的光电性能会得到明显的提高。
化学机械抛光 亚表面损伤 椭圆偏振 少子寿命 碲镉汞 chemical-mechanical polishing sub-surface damage spectroscopic ellipsometry minority carrier lifetime HgCdTe 
红外与激光工程
2016, 45(12): 1204001
作者单位
摘要
中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室,红外成像材料与器件重点实验室,上海200083
红外探测器组件作为目标探测和成像系统的核心器件,其空间分辨能力直接影响着探测系统的成像质量.评估探测器组件空间分辨能力时,常使用调制传递函数(MTF),而不同的探测器组件结构与其 MTF直接相关.介绍了一套弥散斑直径为30 μm的红外小光点测试系统,采用扫描狭缝法测试不同结构红外探测器组件的MTF.测试结果表明叠层电极结构侧面存在的光响应会导致线扩散函数(LSF)展宽和次峰等现象,从而造成探测器组件MTF下降,同时0.17 mm和0.30 mm两种芯片和滤光片间距对于探测器组件MTF的影响甚微,该结果为红外探测器组件杂光抑制设计提供了参考.
调制传递函数 光学串音 红外探测器 空间分辨率 MTF crosstalk infrared detectors spatial resolution 
红外与毫米波学报
2016, 35(3): 294
作者单位
摘要
中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室 红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
红外探测器组件作为目标探测和成像系统的核心器件, 其空间分辨能力直接影响着探测系统的成像质量。评估探测器组件空间分辨能力时, 常使用调制传递函数(MTF), 而探测器组件光学串音是影响探测器组件MTF的主要因素。介绍了一套弥散斑直径为30 μm的红外小光点测试系统, 并用于测试不同结构红外探测器组件的线扩散函数(LSF)来评价组件的光学串音。测试结果表明: 叠层电极结构侧面存在的光响应会导致LSF展宽和次峰等现象, 该结果为红外探测器组件光学串音设计提供了参考。
线扩散函数 光学串音 红外探测器 空间分辨率 LSF optical crosstalk infrared detectors spatial resolution 
红外与激光工程
2016, 45(4): 0404001
作者单位
摘要
1 中国科学院上海技术物理所传感技术国家重点实验室, 上海 200083
2 中国科学院大学, 北京 100049
红外探测器组件作为目标探测和成像系统的核心器件,其空间分辨能力直接影响着探测系统的成像质量。评估探测器组件空间分辨能力时,常使用调制传递函数(MTF),而探测器组件的光学串音是影响MTF 的主要因素。介绍了一套弥散斑直径为30 μm 的红外小光点测试系统,采用扫描狭缝法测试不同结构红外探测器组件的线扩展函数(LSF)并建立相应模型进行模拟分析。理论模拟与实验结果一致,可以很好地解释叠层电极结构侧面的光响应产生的LSF展宽、左右不对称和次峰等现象,该结果为红外探测器组件杂光抑制设计提供了参考。
探测器 光学串音 线扩展函数 空间分辨率 扫出效应 
光学学报
2016, 36(4): 0404001
乔辉 1,2,3,*刘诗嘉 1,3刘向阳 1,2,3朱龙源 1,3[ ... ]李向阳 1,3
作者单位
摘要
1 中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室
2 中国科学院上海技术物理研究所 传感技术国家重点实验室, 上海 200083
3 中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院大学, 北京 100039
利用光刻胶作刻蚀掩模对半导体样品进行感应耦合等离子体干法刻蚀时发现光刻胶掩模在刻蚀后表面出现凸起和孔洞等异常现象, 等离子体会透过部分孔洞对样品表面产生刻蚀损伤。利用探针式表面轮廓仪和激光共聚焦显微镜对这些异常现象进行了分析, 认为是刻蚀时等离子体气氛中的紫外线对作为掩模的光刻胶进行了曝光作用而释放出一定量的氮气, 从而在光刻胶内外形成了压强差而使光刻胶局部表面产生微凸起; 当光刻胶的强度无法阻止内部氮气的膨胀时, 则会发生类似爆炸的效果, 在光刻胶表面形成孔洞状缺陷, 导致掩模保护作用的失效。
刻蚀 干法刻蚀 刻蚀掩模 光刻胶 感应耦合等离子体 etching dry etching etching mask photoresist inductively coupled plasma 
半导体光电
2016, 37(1): 59
作者单位
摘要
中科院上海技术物理研究所, 上海 200083
研究了长波8~15 μm波段,阻值大于440 Ω MCT光导红外探测器,探测率在10 kHz,14 μm大于4×1010 cm·Hz1/2/W,在1 kHz和10 kHz中心频率下的噪声测试,中波5~8 μm红外光伏型InSb器件,探测率在25 kHz,8.26 μm大于1×1011 cm·Hz1/2/W,在1 kHz和255 kHz中心频率下的噪声测试,并对器件信号进行了测试。信号和噪声测试是在124A锁相放大器测试系统测试,对124A测试系统的不确定度进行了分析,并与动态信号分析仪35670A对器件在0~50 kHz频谱范围的噪声进行了测试和比较。实验结果表明,高阻值的光导器件在1 kHz和10 kHz中心频率下噪声相差约1.4倍,光伏型InSb器件在1 kHz和15 kHz中心频率下噪声相差约1.5倍,信号测试结果在1 kHz下和3 kHz中心频率下变化不超过3%。通过测试和比较,对高频下的测试给出了建议。
红外探测器 噪声测试 高频测试 动态信号分析仪 infrared detector noise test high frequency test dynamic signal analyzer 
光学与光电技术
2014, 12(2): 19

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!