林剑春 1,2,*孙丽崴 1陈博洋 3王威 1,2[ ... ]陈凡胜 1
作者单位
摘要
1 中国科学院上海技术物理研究所, 上海 200083
2 中国科学院大学, 北京 100049
3 国家卫星气象中心, 北京 100081
针对某同轴两反光学系统的空间布局特点设计了内遮光罩,并对内遮光罩不同的高度和直径参数进行了系统的杂散光分析,绘制了系统东西方向和南北方向的点源透射率(PST)曲线并得到系统像面处的辐照度,从而为内遮光罩的杂散光抑制能力提供了量化的对比结果,便于内遮光罩进行优化设计。通过杂散光分析,并对内遮光罩的结构强度等参数进行有限元分析(FEA)校核,确定了该口径为320 mm的同轴两反光学系统的内遮光罩高度为100 mm,直径为44.8 mm,使得该遮光罩结构在满足空间遥感器力学性能的要求下达到杂散光抑制的最佳效果,实现了杂散光分析及基于结构FEA的优化设计。
成像系统 同轴两反光学系统 杂散光分析 点源透射率 内遮光罩 
中国激光
2013, 40(1): 0116001
作者单位
摘要
1 中国科学院上海技术物理研究所, 上海 200083
2 中国科学院研究生院, 北京 100049
针对空间遥感望远镜对大视场和高分辨率的需求, 本文提出了像方指向技术。首先设计了透射式大尺寸像面光学系统; 接着, 根据像面尺寸的要求, 提出了一种基于像方指向的探测器机械交错拼接法; 然后, 分析了像方指向系统的工作原理及关键技术。最后, 进行了实验成像并分析了系统的误差。实验结果表明: 像方指向系统的指向精度需优于 1.6 mrad, 探测器焦平面的平面度为 20 μm, 采用该方法可以获取完整的大视场像面图像信息。
望远镜 像方指向 探测器拼接 大尺寸像面 telescope focal plane pointed detector array assembly large scale focal plane 
光电工程
2011, 38(12): 18

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