作者单位
摘要
重庆光电技术研究所, 重庆 400060
设计制作了一款具有开窗功能的行间转移CCD, 其阵列规模为640×480元, 像素尺寸为7.4μm×7.4μm, 可在4种窗口分辨率, 即640×480元、228×480元、640×164元和228×164元下开窗工作, 具备单、双通道输出信号功能, 当器件窗口分辨率为228×164元、以双输出通道模式工作时, 帧频能够达到500f/s, 可以应用于高速目标识别领域。
开窗功能 高帧频 行间转移 电荷耦合器件 图像传感器 open window ability high frame interline transfer CCD imaging sensor 
半导体光电
2021, 42(1): 25
作者单位
摘要
重庆光电技术研究所, 重庆 400060
CCD图像传感器电极间漏电流是反映CCD器件可靠性的一个关键参数, 在CCD图像传感器的生产过程中, 对其电极间漏电流测试是一个重要的检测筛选环节。基于一种漏电流自动化测试方法, 设计了一种CCD电极间漏电流自动化测试系统。该系统可根据不同种类CCD器件, 自定义被测信号名称、测试通道地址和测试判据, 通过计算机软件控制自动循环扫描, 自动采集漏电电流数据, 形成标准测试报表。该系统具有设置灵活、操作方便、自动化测试等优点, 可有效提升CCD生产检查筛选过程中的测试效率和测试设备的通用性。
CCD图像传感器 电极间漏电流 自动化测试 CCD image sensor leakage current between electrodes automated test 
半导体光电
2020, 41(2): 287
作者单位
摘要
重庆光电技术研究所, 重庆 400060
在传统的单点校正和两点校正的基础上, 提出了一种新的可适应不充分场景变化条件的端口间动态场景自适应修正算法。该算法基于动态场景成像过程中多端口图像数据之间的相关性, 使用FPGA+ARM硬件平台, 采用实时修正偏置系数的方式, 实现多端口图像实时非均匀性校正, 解决了定标算法无法根据环境进行自适应调整和场景算法不能进行实时校正的问题。
多端口 实时 非均匀性校正 multi-port real-time non-uniformity correction 
半导体光电
2014, 35(3): 537
作者单位
摘要
重庆光电技术研究所,重庆 400060
通过对帧转移、内线转移、TDI(时间延迟积分)、线列等多种典型CCD驱动时序的共性和差异特征进行分析,提出了一种针对CCD图像传感器驱动时序的参量化设计方法。该方法提取了驱动时序的时间、状态、周期循环次数等16个参量,根据各参量之间的逻辑关系,采用FPGA设计时序发生程序模块,通过上位机对程序模块设置参量值,可实现对工作模式、工作频率、相位延迟等时序关系的调节,达到对CCD图像传感器各路驱动时序灵活控制的目的。此设计应用于CCD图像传感器参量测试系统中,有效地提高了参量测试效率和测试系统的通用性。
CCD图像传感器 驱动时序 时序参量 CCD image sensor driver schedule timing parameter 
半导体光电
2013, 34(6): 1055

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